2010年1月23日土曜日

自主回収プログラム

CNET Japan からの引用ですが

2006年10月にSONYではデルおよびアップルのマシンで起こった発火事故の
原因について、円筒型電池セルの内部に、製造工程で金属粉が混入し、
特定の部位に混入した結果、発熱・発火が起こったことと、
充電システムや形状、消費電力、温度といったマシンのシステム構成上の要因があると説明。
原因となった金属粉については「ニッケルとみている」

遅~いんですが、手元にあるVAIOのバッテリーを交換していただきました。
迅速、迅速 電話してから中一日で交換バッテリーが届きました。

中古で最近入手したもので、ドライバを探してるときに自主回収品になるものだと知り申し込みをしたのですが、知らずに使っていた限りでは問題なく使えていましたが…

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